Microscope 3D pour essais non destructifs

Problématique

Plusieurs technologies sont axées sur les applications d’essais non destructifs, mais les systèmes actuels ne comblent pas tous les besoins. Si la surface à analyser est métallique et si un niveau élevé de résolution des détails et de précision est nécessaire, nombre des systèmes offerts sur le marché ne représentent tout simplement pas des solutions de rechange pratiques.

  • Aube
  • OEM microscope
  • modèle CAO

Solution

L’INO a mis au point un capteur 3D de haute précision basé sur les techniques de décalage de phases. Cette solution optique comporte un projecteur, un microscope et un système d’éclairage. Le projecteur et le microscope permettent de mesurer la topographie de la surface inspectée. Ce système de spectroscopie d’émission optique a été conçu pour inspecter sans contact les surfaces métalliques et non métalliques et a été optimisé afin d’offrir la meilleure résolution possible (vertical : 1 µm; horizontal : 5 µm) et une précision exceptionnelle. Il est bien adapté à la métrologie, à l’évaluation du fini des surfaces ou aux inspections de précision de pièces tels les lames, les moules et même les systèmes microélectromécaniques.

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